如图所示是检验带电体A(上表面)、B(尖端)带电情况的实验装置。则( ▲ )
A.带电体A处比B处电荷密集
B.带电体B处比A处电荷密集
C.验电器的C处做成球形是为了美观需要
D.验电器的C处做成球形是为了让更多电荷分布在C处
如图所示是检验带电体A(上表面)、B(尖端)带电情况的实验装置。则( ▲ )
A.带电体A处比B处电荷密集
B.带电体B处比A处电荷密集
C.验电器的C处做成球形是为了美观需要
D.验电器的C处做成球形是为了让更多电荷分布在C处
B